FE-REM Rasterelektronenmikroskop

FE-REM Rasterelektronenmikroskop ZEISS Supra 55 VP

  • FE-REM, Auflösung 1,2 nm, Strahlstrom max. 100 nA
  • Niedervakuum-Modus
  • Detektoren: SE (Kammer), InLens SE, VPSE, 4Q-BSD
  • Analytik: EDX, EBSD (Bruker)
  • In-situ-Zug/Druckmodul

Ansprechpartner:

Dr.-Ing. Torsten Heidenblut
Leitung
Adresse
An der Universität 2
30823 Garbsen
Gebäude
Raum
010
Dr.-Ing. Torsten Heidenblut
Leitung
Adresse
An der Universität 2
30823 Garbsen
Gebäude
Raum
010