Technische Daten / Ausstattung
Auflösung bis zu 900 nm
- Röntgenquelle mit 30–160 kV (geeignet für Materialien erhöhter Dichte wie z. B. Stähle)
- Diverse Objektive für unterschiedliche Vergrößerungen (0.4-fach, 4-fach und 20-fach)
- FPX Flat Panel für kurze Messzeiten an großen Proben
- Beugungskontrast-Tomografie für kristallografische Analysen der Kornorientierung (LabDCT)
- In-Situ-Modul für Zug- und Druckversuche inklusive Probentemperierung von -20 °C bis 160 °C (Deben CT5000-Tec)
- VEDDAC volume, Software zur digitalen Volumenkorrelation (DVC), Analyse von Verformungen und Dehnungen im Materialinneren
- Correlative Workflow in Kombination mit dem Zweistrahlsystem Zeiss Auriga
Nutzungsordnung
Das Röntgenmikroskop wurde im Rahmen der DFG-Großgeräteinitiative „Röntgenografisches Hochdurchsatzscreening für die Materialentwicklung“ vom Institut für Werkstoffkunde (IW), der Medizinischen Hochschule Hannover (MHH) und dem Institut für Kontinuumsmechanik (IKM) beschafft. Die Beantragung von Messzeiten kann der Nutzungsordnung entnommen werden.
Kontakt: xrm@iw.uni-hannover.de
Dr.-Ing. Sebastian Herbst
Leitung
Telefon
Fax
E-Mail
Adresse
An der Universität 2
30823 Garbsen
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Gebäude
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Dr.-Ing. Sebastian Herbst
Leitung
