Im Transmissionselektronenmikroskop werden sehr dünne Metallproben mit Elektronen durchstrahlt. Dabei können Auflösungen von einigen Mikrometern bis hin zu wenigen Nanometern erreicht werden. So wird ein Nachweis von Ausscheidungen, Versetzungen und Korngrenzen möglich.
Im Transmissionselektronenmikroskop werden sehr dünne Metallproben mit Elektronen durchstrahlt. Dabei können Auflösungen von einigen Mikrometern bis hin zu wenigen Nanometern erreicht werden. So wird ein Nachweis von Ausscheidungen, Versetzungen und Korngrenzen möglich.
KONTAKT ZUM BEREICH TECHNOLOGIE DER WERKSTOFFE
Dr.-Ing. Sebastian Herbst
Leitung
Telefon
Fax
E-Mail
Adresse
An der Universität 2
30823 Garbsen
30823 Garbsen
Gebäude
Raum
Dr.-Ing. Sebastian Herbst
Leitung
