Röntgenmikroskop (XRM) Zeiss Xradia
Das Röntgenmikroskop (XRM) Xradia 520 Versa der Fa. Zeiss ermöglicht eine zerstörungsfreie Röntgenbildgebung (Computertomographie, CT) von Proben aus Kunstoffen, Metallen und Keramiken. Durch die Verarbeitung der tomographischen Aufnahmen lassen sich beispielsweise Ausscheidungsverteilungen in Gusslegierungen, Porenvolumina in additiv gefertigten Proben oder umformbedingte Defekte wie Risse ab einer Größe von einem oder wenigen Mikrometern messen und dreidimensional darstellen.
Das Röntgenmikroskop (XRM) Xradia 520 Versa der Fa. Zeiss ermöglicht eine zerstörungsfreie Röntgenbildgebung (Computertomographie, CT) von Proben aus Kunstoffen, Metallen und Keramiken. Durch die Verarbeitung der tomographischen Aufnahmen lassen sich beispielsweise Ausscheidungsverteilungen in Gusslegierungen, Porenvolumina in additiv gefertigten Proben oder umformbedingte Defekte wie Risse ab einer Größe von einem oder wenigen Mikrometern messen und dreidimensional darstellen.
Technische Ausstattung
- Auflösung bis zu 900 nm
- Röntgenquelle mit 30–160 kV (geeignete für Materialien erhöhter Dichte wie z. B. Stähle)
- Diverse Objektive für unterschiedliche Vergrößerungen (0.4-fach, 4-fach und 20-fach)
- FPX Flat Panel für kurze Messzeiten an großen Proben
- Beugungskontrast-Tomografie für kristallografische Analysen der Korngrößenorientierung (LabDCT)
- In-Situ-Modul für Zug- und Druckversuche inklusive Probentemperierung von 20 °C bis 160 °C (Deben CT5000-Tec)
- Correlative Workflow in Kombination mit dem Zweistrahlsystem Zeiss Auriga
30823 Garbsen
