Specimen Preparation by Ion Beam Slope Cutting for Characterization of Ductile Damage by Scanning Electron Microscopy
Kategorien |
Zeitschriften/Aufsätze |
Jahr | 2016 |
Autorinnen/Autoren | Besserer, H.-B.; Gerstein, G.; Maier, H. J.; Nürnberger, F. |
Veröffentlicht in | Microsc. Res. Tech. 79, 2016 (4), 321-327 |
DOI | 10.1002/jemt.22633 |